您好,欢迎来到亚洲制造网!请 |免费注册

产品展厅本站服务收藏该商铺

杭州大吉光电仪器有限公司

标准会员·1年
手机逛
0571-88985274
杭州大吉光电仪器有限公司

Technical article

技术文章

当前位置:杭州大吉光电仪器有限公司>>技术文章>>降落数值测定仪可准确判断谷物的发芽损伤程度

降落数值测定仪可准确判断谷物的发芽损伤程度

发布时间:2025/8/2120


      降落数值测定仪是消化吸收同类产品的优点,结合实际情况研制的测定谷物中活性的专用仪器,可准确判断谷物的发芽损伤程度,适用于谷物,尤其是小麦和小麦粉的测定,是粮食储藏、面粉加工等ling域中进行质量检测的仪器。

       降落数值测定仪是双测试管降落数值仪,由测试单元(水浴、搅拌系统)、控制单元显示屏、打印机等组成。显示屏可显示降落数值,其中控制部分采用了高性能、低电耗单片微机及内部不间断电池等,能准确的记录每次测定的两组降落数值和每次测定的实际日期及时间,并采用了具有标准汉字库、前换纸的微型打印机,打印机能自动打印样品编号、降落数值、日期。

标签关键词:

上一篇: 面筋测定仪的工作特性

下一篇: 微量铀分析仪的测试

在线询价

X

已经是会员?点击这里 [登录] 直接获取联系方式

会员登录

X

请输入账号

请输入密码

=

请输验证码

收藏该商铺

X
该信息已收藏!
标签:
保存成功

(空格分隔,最多3个,单个标签最多10个字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我们将在第一时间回复您~