降落值测定仪是测定谷物中活性的专用仪器，可准确判断谷物的发芽损伤程度，适用于谷物，尤其是小麦和小麦粉的测定，是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等领域中进行质量检测的仪器。是根据GB/T 10361-2008 《小麦、黑麦及其面粉，杜伦麦及其粗粒粉 降落数值的测定 Hagberg-Perten法》新国家标准自主研制生产。
仪器是按照伯格哈格--坦恩降落数值法对谷物中α—活性指标进行测定的。
面粉、粗粒粉和全麦粉的悬浮液在沸水浴中被迅速糊化，因糊化物中α—活性的不同而使其中的淀粉不同程度的被液化，液化程度不同，粘度搅拌器在糊化物中降落特定距离所需要的时间不同。因此，降落数值（FN）的高低也就表明了相应的α—活性的差异，降落数值（FN）高表明α—的活性低，反之则表明α—的活性高。
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